NAND存储颗粒SLT测试解决方案

昂科NAND存储颗粒SLT测试解决方案，专为3D NAND存储颗粒打造，提供TurnKey全栈式测试服务，可有效剔除早期失效。温度测试范围与精度全面升级，满足企业级严苛需求，是经过市场验证的成熟自动化测试方案。

产品优势

NAND存储颗粒SLT测试解决方案

PC	CPU	Intel Xeon W-2400/3400
	RAM	128GB-256GB DDR5 6400 MT/s (ECC)
	操作系统	Linux Ubuntu 22.04 LTS, 1TB NVMe PCIe 4.0/5.0 SSDas OS drive
	主板接口	HDMI，1000/100/10 Mbps 以太网, USB 2.0
测试版卡通讯接口	参考电压控制	独立调节，调节步进精度达5mV
	测试板通讯	金手指连接，支持64DUT同侧
	UART	UART或USB-HUB通讯，支持64DUT同测
电源管理	VCC	2.3V-3.6V，电流输出 ≥2A
	VCCQ	1.14V- 1.26V
	VCCQ2	0.5V -0.9V
	电压精度	±2mV
	电压调节步进	0.5mV
压力测试	pattern测试	支持多种pattern遍历，适配多种筛选方式
	压力模拟	支持快速 P/E Cycle 寿命老化测试
	异常模拟	支持比特翻转注入及协议违规测试
温控	独立控温	支持
	温度范围	-40℃~125℃
	温度精度	±3℃
颗粒筛选测试	信息读取	ID读取、坏块管理
	Block级	支Latency、(SLC/TLC)copy back, read disturb, IVS, program/erase suspend
	测试流程可调	软件支持工程师整测试项顺序

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