存储器-SLT测试解决方案

昂科V9000-SLT测试解决方案，针对LPDDR 4/5产品实现高效、高质量SLT测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。创新并列堆叠设计，支持1680DUTs同测，高 UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持三温精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。

超大同测数

•  支持1680 DUTs超大同测业界领先

•  超高UPH

高精度独立温控

•  支持三温/高常温测试超高UPH

•  常温~150℃, ±3℃;

•  三温测试：-40~125℃, ±3℃,

•  满足车规等场景的高可靠性测试要求

高精度压力控制

•  单DUT独立控压，精度±0.1N，

•  配合柔性吸嘴机构避免测试过程对芯片造成损伤

模块化设计与柔性产线

•  创新的模块化堆叠式设计

1.  支持按需扩容或换线

2.  可满足大批量测试或多品类、小批量灵活测试需求

•  全流程可追溯

1.  芯片二维码与载板、测试库位绑定

2.  测试过程日志记录

3.  芯片上料-测试-下料全流程追溯