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电源模块老化测试解决方案

昂科在AI电源模块的老化测试领域深耕多年，V9000-ABI电源老化测试设备以其高并测数、大电流全拉载、独立温控等关键技术能力，已经成为该领域的客戶必选产品。产品是全球首款规模化并列堆叠式老化测试设备，用于AI服务器的电源模组和车载电源芯片的全自动老化测试分选一体机，支持常温到高温的老化测试及分选。

应用领域

电源模块老化测试解决方案

产品优势

满足电源模块老化测试苛刻条件

创新散热设计，风冷拉载率 50%~60%，液冷 100%
老化工况贴近真实应用，尤其适用垂直供电构架
单DUT 独立温控，精度 ±2℃
全数据可追溯，上电时序软件自定义

真正全自动化测试

超高UPH，标准512 DUT同测数，可拓展至1000+
全自动上下料，高精度DUT测试压力调节
可扫描产品多处二维码，确保可追溯性
换线时间短，支持拍照定位
可选AOI和激光打标功能

节约运营成本，提升产能增效

能馈式负载，大幅降低运营电费
创新Socket和BIB散热结构设计，提升BIB板寿命
模块化BIB设计，换线成本低

电源模块老化测试解决方案

测试盒设计

Burn-In测试盒作为系统核心单元，测试库采用多盒体堆叠架构设计。
测试盒集成CCU主控单元、数字板卡与模拟板卡，最高支持8张板卡灵活组态。
数字板卡负责 DUT 数字接口、EN/PG信号激励与全域状态监测，实现I2C/SPI高速总线通信，精准采集DUT核心温度与寄存器数据。
模拟板卡实时监控VIN/VOUT/IIN/IOUT等关键模拟量，同步完成Pogo针健康状态智能检测。
16通道源载模块为DUT供给多路输入电源轨、高能效能馈式负载及全参数电压电流监测，并配置多路浮动控制电源。
系统兼容水冷/风冷双散热方案，依托ASC系统，实现单DUT独立精准温控与老化环境智能调控。

BIB板设计

根据客戶芯片最大化测试Site布局：BIB板放16个Socket；
老化板采取子母板设计，增加兼容性，降低维护成本；
模块化Docking Interface，同时支持大电流和高速接口；
满足大电流可编程电源，单DUT功耗支持1500W；
零电流分离设计，避免测试板断开时电流冲击；
大电流针接触阻抗实时监测功能；
配置有自动开闭盖装置。

电源模块老化测试解决方案

电源模块老化测试解决方案

电源模块老化测试解决方案

产品特性

HandlerSpecs	器件尺寸范围	From33---100100mm
	操作模式	正常模式练习模式空跑模式
	控制系统	工业计算机
	操作系统	WINDOWS
	MTBA	>4H
	UPH	UPH≥1000
	测试工位	1个
	测试通道	1-4CH
	机械结构	封闭式
	工作气压	0.4-0.6MPa
	工作电压	220VAC/50Hz
	设备重量	约600Kg
	设备尺寸	120013001850mm
	工作环境	温度：15-35℃ 湿度：30-70%
	存储环境	温度：-20-60℃ 湿度：20-80%
	冷却方式	强制风冷
	安全保护	安全门、急停按钮、过载保护

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