昂科在AI电源模块的老化测试领域深耕多年，V9000-ABI电源老化测试设备以其高并测数、大电流全拉载、独立温控等关键技术能力，已经成为该领域的客戶必选产品。产品是全球首款规模化并列堆叠式老化测试设备，用于AI服务器的电源模组和车载电源芯片的全自动老化测试分选一体机，支持常温到高温的老化测试及分选。应用领域产品优

昂科V9000-SLT测试解决方案，针对LPDDR 4/5产品实现高效、高质量SLT测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。创新并列堆叠设计，支持1680DUTs同测，高 UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持三温精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。高效赋能LPDDR 测试超大容量、高可靠、全自动化

昂科V9000-SLT测试解决方案，针对LPDDR 4/5产品实现高效、高质量SLT测试。方案可灵活搭配外设，全自动化运行降低人为失误。创新并列堆叠设计，支持1680DUTs同测，高 UPH且可灵活扩容换线。独立温控与压力控制，支持三温精准测试，全流程可追溯，满足车规等高可靠要求。高效赋能LPDDR 测试超大容量、高可靠、全自动化