芯片测试分选_半导体测试_芯片老化测试_深圳市昂科技术有限公司

时光荏苒，华章日新。2026年1月23日，昂科集团以“AI”梦想 “芯” 未来为主题的年会在南山区深铁皇冠假日酒店5楼盛大启幕。这场盛会不仅是集团年度成果的集中回望、内部同心的欢聚庆典，更是彰显昂科人奋进风采、宣示布局未来、攻坚宏伟战略目标的庄严誓师。全体昂科人齐聚一堂，复盘过往耕耘，共绘未来蓝图，凝聚发展共识

2025年6月17日，半导体测试领域迎来里程碑时刻！全球半导体自动测试设备领军企业泰瑞达（TERADYNE）与昂科技术（ACROVIEW）正式签署战略合作协议，签约仪式在位于深圳市南山区科技园的汉京金融中心7楼的昂科技术总部圆满完成。双方高层领导、半导体行业协会领导、重要客户代表及昂科员工齐聚一堂，共同见证这一具有深远意义的合作启动。

4 月22日至24日，第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展览会（NEPCON China 2025）在上海世博展览馆圆满收官。作为全球电子制造领域的年度盛会。昂科技术以1号馆1B35展位为舞台，凭借 "芯片烧录+测试" 双轮驱动的技术矩阵，向行业展示了其在半导体后道工艺领域的领先实力，成为展会最受关注的焦点之一。